熒光分光光度計或熒光計是強大的分析工具。它們與紫外-可見分光光度計有相似之處，因為兩者都涉及光被測試樣品中的特定分子吸收。然而，在熒光分光光度計中，由于被稱為熒光的現象在吸收后發出的光的強度被測量為波長的函數，以產生熒光光譜。

熒光分光光度計的基本工作原理

　　所有分子都包含許多特定于特定分子的離散能級。在分子的基態中，它的電子占據可用的最低能級。然而，當它們從光中吸收適當的能量時，它們可以過渡到更高的水平以形成激發態。這些本質上是不穩定的，因此電子會自發地回落到較低的水平。在這個過程中發出的光是熒光。

　　激發的電子可以回落到各種較低的能級或直接回到基態，導致能量發射低于或等于入射光能。因此，熒光光譜總是出現在比入射光束更長的波長處。由于熒光發射發生在各個方向，但強度遠低于入射光束，因此熒光檢測器位通過測試樣品的光束路徑。這可以防止探測器被入射光束淹沒。

充分利用熒光分光光度法

　　雖然熒光強度發射比紫外-可見分光光度計中的信號弱得多，但熒光計的檢測水平較低。這是因為熒光信號是直接測量的。這與入射光束是分開的，并且可以很容易地以低噪聲貢獻被放大。然而，在紫外-可見分光光度計中檢測低濃度意味著測量大傳輸信號和原始入射光束之間的非常小的差異，這受到兩個光束中存在的噪聲的限制。

　　熒光計可以提供多種不同的測量選項：

　　高強度光源，一般覆蓋200~750 nm 波長范圍，配備基于衍射光柵的單色儀，因此可以將入射光束的波長調整到特定值。這意味著可以使用不同的激發能量來確定測試樣品中多種成分的濃度。

　　通過測量隨時間變化的熒光強度，可以計算出樣品池中發生的反應速率

　　在掃描入射光的波長時記錄一系列熒光光譜，可以建立 3 維掃描或激發發射矩陣，其中發射的熒光強度取決于激發和發射波長。這會生成一個熒光指紋可用于測量樣品的成分、濃度和環境負荷，用于檢查純度、原料異常、混合物成分、有機降解引起的新鮮度或確定原產地等。