在使用涂層厚度計時，有時測量結果會感到偏差，或測量校正樣品的厚度不同，什么原因影響涂層測厚儀精度?

　　基體金屬磁性：磁涂層厚度計受基體金屬磁性變化(低碳鋼磁性變化可忽略不計)的影響。同時，儀器應校準與試件基體金屬性質相同的標準片，或涂層試件應校準，以避免熱處理和冷處理因素的影響。

　　基金屬的電性：渦流測厚儀受基金屬電導率的影響，基金屬的電導率與其材料成分和熱處理方法有關。解決方案是使用與測試基金性質相同的標準板來校準儀器(這與第一點相同，并解釋如何校準涂層厚度計)。

　　基金屬厚度：每臺儀器都有一個基金屬的臨界厚度。只要大于此厚度，測量就不會受到基金屬厚度的影響。此外，由于每臺儀器在測量時都有涂層的最小厚度值，因此除此值以外的涂層厚度無法測量。

　　邊緣測量效果：涂層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此，不能靠近試件的邊緣或內角進行測量，否則測量值會有較大的偏差。

　　試件曲率：試件曲率對測量有很大影響。隨著曲率半徑的降低，這種影響顯著增加，即平面上的測量比平面上的測量更準確(很容易理解為最大曲面上的平面想象)。因此，在彎曲度較大的樣品表面測量涂層厚度是不準確的。同樣，當樣品不同程度地變形時，也會導致測量偏差。

　　試件表面粗糙度：基體金屬和覆蓋層表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增加，測量效果增加。粗糙的表面會導致系統誤差和意外誤差。每次測量時，應增加不同位置的測量次數，以克服這一意外錯誤。如果基金屬粗糙，則必須將儀器的零點校對到基金屬試件上的幾個位置，而不是涂層的粗糙度相似;或者在使用對基金屬無腐蝕性溶液去除覆蓋層后，重新校準儀器的零點。簡單理解：如果試件的粗糙度較高，則相當于峰谷。測量峰值上的涂層厚度將小于實際涂層厚度，峰值谷上的涂層厚度將大于實際涂層厚度。此外，對于涂層的粗糙度，由于儀器測量頭需要與涂層測量緊密配合，涂層的峰谷測量會影響電導體上的磁阻值和渦流值反饋值。

　　環境磁場：測量環境周圍存在各種電氣設備產生的強磁場，嚴重干擾磁性法測厚儀。當周圍存在不同程度的高頻電磁波時，渦流法測厚儀也會受到影響。

　　確保儀器測頭與被測件表面直接接觸，去除附著在試件表面的物質。

　　測量頭壓力：測量頭放置在試件上的壓力尺寸會影響測量讀數。因此，應保持恒壓。在實際測量過程中，我們需要用一些力將測量頭壓在試件表面，而不是太大或太小。

　　測量頭的方向：在測量過程中，應保持測量頭垂直于樣品表面，以獲得最準確的值。如果測量頭偏離，則得到更大的值。